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中圖儀器CEM3000系列高分辨掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

NS系列探針式接觸臺階高度儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，能夠廣泛應用于半導體、太陽能光伏、光學加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業領域內的工業企業與高校院所等科研單位，其對表面微觀形貌參數的準確表征，對于相關材料的評定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

中圖儀器SEM掃描電鏡品牌采用鎢燈絲電子槍，制作工藝相對簡單，材料成本也較低，使得鎢燈絲電子槍的整體成本不高，從而降低了臺式掃描電鏡的設備采購成本。鎢燈絲電子槍可以在相對較低的真空度下工作，通常只需要兩級真空泵系統獲得 0.001Pa 左右的真空度即可滿足要求，而不需要像場發射電子槍那樣的超高真空環境，這不僅降低了真空系統的復雜度和成本，還縮短了抽真空的時間，提高了工作效率。

中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。

CEM3000系列國內高分辨力掃描電鏡運用了快速抽放氣設計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統，以便精準調節樣品倉內真空度，滿足不同樣品的觀測需求。此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。

CEM3000系列國產掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。