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Super View白光干涉儀國內品牌采用的測量方式是非接觸無損測量方式，避免了對被測物體造成劃痕和磨損，尤其適用于各種柔軟材料、易腐蝕材料和傳統(tǒng)方式無法檢測的表面形態(tài)測量和分析。集合了自身白光干涉三維重建技術和微納米顯微測量三維軟件，以及采用了集合相移法PSI的高精度和垂直法VSI大范圍兩大優(yōu)點的擴展型相移算法EPSI，分辨率0.1μm，重復性0.1%，比肩進口品牌，讓輪廓測量價格*為實惠。

中圖儀器白光干涉儀專用于非接觸式快速測量，具有三維形貌測量和圖像分析的功能。適合檢測的樣品按領域分為微納材料、超精密加工（機械、光學）、半導體封裝、消費電子類這四個領域。

SuperView W3白光干涉儀可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、工科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，

SuperView WX 100白光干涉測頭是一款非接觸式精密光學測頭，其基于白光干涉和精密掃描研制而成，主要由光學干涉系統(tǒng)和Z向掃描系統(tǒng)組成，具有體積小、重量輕、便攜的特點，能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構的平臺上，在產線上對器件表面進行自動化形式的測量，直接獲取與表面質量相關的粗糙度、輪廓尺寸等2D/3D參數(shù)。