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SuperViewW1表面粗糙度光學測量儀采用經(jīng)國家計量檢測研究院校準的臺階高標準片作為測量標準件，采用該標準片對儀器的檢測精度和重復性進行驗收，其中臺階高標準片高度在4.7um左右，測量精度要求為0.75%，重復精度要求0.1%（1σ）（測量15次獲取的數(shù)據(jù)標準差），主要用于對樣品表面的2D、3D形貌進行測量，主要測量參數(shù)為粗糙度、臺階高、幾何輪廓等。

SJ5718-R在線粗糙度儀具有精度高、使用方便、功能強等優(yōu)點，能夠對各種工件輪廓進行長度、高度、間距、水平距離、垂直距離、角度、圓弧半徑等幾何參數(shù)測量，并且具有的CNC功能能進行一系列操作自動化，可高效率地進行測量作業(yè)。

大量程粗糙度測量儀是一款表面粗糙度測量儀器；采用進口高精度光柵測量系統(tǒng)、高精度研磨導軌、高性能非接觸直線電機、音圈電機測力系統(tǒng)、高性能粗糙度測量模塊、高性能計算機控制系統(tǒng)技術，實現(xiàn)對各種工件表面粗糙度的測量和分析

小型粗糙度測量儀通過高精度研磨導軌、高性能直線電機保證測量的高穩(wěn)定性及直線度，采用進口高精度光柵測量系統(tǒng)建立工件表面粗糙度微觀輪廓的二維坐標，計算機通過修正算法對光柵數(shù)據(jù)進行修正，最終還原出工件粗糙度信息并以曲線圖顯示出來，通過軟件提供的分析工具可對粗糙度進行各種參數(shù)分析。

由于硅晶圓的粗糙度檢測精度已到亞納米量級，而在此量級上，接觸式輪廓儀和一般的非接觸式儀器均無法滿足檢測要求，只有結合了光學干涉原理和精密掃描模塊的SuperViewW1晶圓粗糙度檢測儀器才適用。

中圖儀器SuperViewW1 非接觸粗糙度測量儀分辨率0.1μm，重復性0.1%，可為樣品表面測量提供快速，便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。